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大奖娱乐在线【仪器简介】
 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2nm的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜,电子束的波长要比可见光和紫外光短得多,并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比,也就是说电压越高波长越短。目前TEM的分辨力可达0.2nm。
【仪器名称】高分辨透射电镜
【型号】JEM2010
【生产厂家】日本电子光学公司
【功能/应用范围】纳米材料,高分子材料,半导体材料,介观材料,微孔材料等的形貌观察、结构分析和微区在线元素分析。
【主要附件】能量散射X射线分析系统(EDS),Oxford,INCA CCD相机,1K*1K,Gatan794 TV相机,Gatan 双倾加热台(Heating Specimen Holder),Gatan,最高加热温度1000摄氏度 Piezo漂移补偿系统 JEE400蒸镀仪
主要技术指标:点分辨率0.23nm,晶格分辨率0.14nm,放大倍率200-1500000。